모집 마감

외주

등록 일자 2024.11.15.

반도체 WAFER DEFECT 검사 시스템 학습서버 개발(상주 필수)

개발

임베디드

데이터 분석ㆍBI, Gen AI 서비스

예상 금액

100,000,000원

금액 조율 가능

예상 기간

60일

기간 조율 가능

지원자 수

11명

모집 마감일

2024년 11월 29일

예상 시작일

2024년 12월 01일

진행 분류

기획 상태

프로젝트 경험

협업 예정 인력

우선 순위

업무 내용

시스템 개요 :
- 반도체 장비내 image sensor를 장착하여 scan된 image를 AI SW가 분석하고 그 불량종류를 판별하고 그 결과값을 반도체 FAB HOST에 넘겨주는 Wafer Defect 모니터링 시스템입니다.

프로젝트의 현재 상황 :
- 현재 개발완료된 범위는 1. 불량판별SW, 2. SERVER DB, 3. SERVER IMAGE가 완료된 상태입니다.

개발 기간 :

모집 요건

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미팅

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진행 중 미팅

클라이언트 위치

경기도 용인시 처인구

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